测量固体热物性参数的光学系统
- 申请号：CN201220617402.2
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院工程热物理研究所
- 公开(公开)号：CN203037569U
- 公开(公开)日：2013.07.03
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 测量固体热物性参数的光学系统 | ||
| 申请号 | CN201220617402.2 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN203037569U | 公开（授权）日 | 2013.07.03 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院工程热物理研究所 | 发明（设计）人 | 邱琳;徐先锋;唐大伟;祝捷;布文峰 |
| 主分类号 | G01N21/21(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/21(2006.01)I |
| 专利有效期 | 测量固体热物性参数的光学系统 至测量固体热物性参数的光学系统 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 本实用新型提供了一种测量固体热物性参数的光学系统。该光学系统包括：加热激光产生组件、探测激光产生组件、合束元件、分光元件、加热激光接收组件、样品测试组件和探测激光接收组件。本实用新型采用信号调制的光热反射法，属于频域方法，和超短脉冲激光抽运探测法等时域方法相比，没有机械运动部件，测量系统相对简单、光路调节更方便。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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