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一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法

  • 申请号:CN201110454082.3
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院空间科学与应用研究中心
  • 公开(公开)号:CN103185566A
  • 公开(公开)日:2013.07.03
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法
申请号 CN201110454082.3 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103185566A 公开(授权)日 2013.07.03
申请(专利权)人 中国科学院空间科学与应用研究中心 发明(设计)人 王宏建;易敏;陈雪;赵鑫;刘广;刘世华;郝齐焱
主分类号 G01C1/00(2006.01)I IPC主分类号 G01C1/00(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I
专利有效期 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 至一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法,所述的反射面天线固定于天线支架上,包括有:电子经纬仪和天线基准镜,其特征在于,该装置还包括有光学望远镜;所述的光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上;所述的发射天线旁边放置一靶标;该测试装置,用于通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合,精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。该方法利用光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上,并在所述的发射天线旁边放置一靶标,最终通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合,精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。本发明可以解决精确测试星载天线电轴机械轴指向问题,具有准确、普适性强等优点。

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