一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法
- 申请号:CN201110454082.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院空间科学与应用研究中心
- 公开(公开)号:CN103185566A
- 公开(公开)日:2013.07.03
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 | ||
| 申请号 | CN201110454082.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103185566A | 公开(授权)日 | 2013.07.03 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明(设计)人 | 王宏建;易敏;陈雪;赵鑫;刘广;刘世华;郝齐焱 |
| 主分类号 | G01C1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C1/00(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 至一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种反射面天线波束指向的测试装置及其测试方法,所述的反射面天线固定于天线支架上,包括有:电子经纬仪和天线基准镜,其特征在于,该装置还包括有光学望远镜;所述的光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上;所述的发射天线旁边放置一靶标;该测试装置,用于通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合,精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。该方法利用光学望远镜平行于反射面天线机械轴固定于天线支架上,并在所述的发射天线旁边放置一靶标,最终通过光学测量方法和天线远场方向图测试相结合,精确测量反射面天线的电轴和机械轴夹角。本发明可以解决精确测试星载天线电轴机械轴指向问题,具有准确、普适性强等优点。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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