34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置
- 申请号:CN201220642411.7
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN203025260U
- 公开(公开)日:2013.06.26
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置 | ||
申请号 | CN201220642411.7 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN203025260U | 公开(授权)日 | 2013.06.26 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 陆江;朱阳军;佘超群;成星;高振鹏 |
主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
专利有效期 | 34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置 至34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型提供了一种34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置,其中,底座上开设有凹槽,用于容置待检测34毫米半桥连接功率器件模块。所述夹具用于与待检测模块的各个极相接触,还在底座上设置有转换接口,用于将夹具上的弹簧引脚与测试仪器相连。并在底座上设置有第一开关和第二开关,其中,第一开关用于控制待检测模块的栅极与源极短路或断路,第二开关用于选择切换待检测模块中第一IGBT模块或第二IGBT模块。采用本实用新型提供的测试装置,通过第一开关以及第二开关实现对不同IGBT模块的切换,且无需对待检测的模块的各个极进行连线,操作简单,测试效率高,除此,减少了引线,进而减少了寄生电容,使测试更加准确。 |
交易流程
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