专利详情

专利名称	专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法
申请号	CN201310081613.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103175857A	公开（授权）日	2013.06.26
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	谢亚宁;张静;张久昶;宋冬燕
主分类号	G01N23/223(2006.01)I	IPC主分类号	G01N23/223(2006.01)I
专利有效期	专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法至专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	公开了一种专用于掠入射XAFS实验的装置及其调整方法，其中该装置包括：用于产生掠入射XAFS实验所需的X射线的装置；前狭缝，限定X射线的尺寸；第一升降台，使前狭缝在垂直方向上升降；样品架，承载样品；旋转台，使得样品架上的样品转动，以获得所需的X射线掠入射角度；第二升降台，使得旋转台在垂直方向上升降；后狭缝，限定全反射X射线的尺寸；第三升降台，使得所述后狭缝在垂直方向上升降；第一探测器，探测从样品发出的荧光信号；第二探测器，探测全反射X射线信号。采用该装置及方法，能够快速精确地设定样品初始位置，而且能够精确地调整样品角度，并以高信噪比获取样品的实验探测数据，获得高质量的掠入射XAFS实验谱。