结壳热阻测试方法
- 申请号：CN201310054317.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院电工研究所
- 公开(公开)号：CN103175861A
- 公开(公开)日：2013.06.26
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 结壳热阻测试方法 | ||
| 申请号 | CN201310054317.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103175861A | 公开（授权）日 | 2013.06.26 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 仇志杰;张瑾;温旭辉 |
| 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/20(2006.01)I |
| 专利有效期 | 结壳热阻测试方法 至结壳热阻测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种结壳热阻测试方法，包括以下步骤：（1）测量干接触条件下待测器件的瞬态降温曲线；（2）测量湿接触条件下待测器件的瞬态降温曲线；（3）计算干接触条件下的瞬态降温曲线和湿接触条件下的瞬态降温曲线温度变化幅度的差△T；（4）将测试设备中的恒温散热冷板温度升高△T，再次测量湿接触条件下的瞬态降温曲线；（5）使用步骤（1）测得的干接触瞬态降温曲线和步骤（4）测得的湿接触瞬态降温曲线计算结壳热阻。 | ||
交易流程
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专利 -
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