专利详情

专利名称	一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法
申请号	CN201310054961.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103176080A	公开（授权）日	2013.06.26
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	李毅;王秋良;陈顺中;胡新宁
主分类号	G01R31/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01)I
专利有效期	一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法至一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种超导磁体失超保护方案验证系统及其验证方法，其验证系统包括验证装置和信号检测系统两部分；所述的信号检测系统与所述的验证装置连接，通过线圈内部温度计（6）、线圈外部温度计（7）、加热器保护检测抽头（8、8’）检测和采集验证装置的超导线圈（2）的电压和温度信号，通过测量引线（9）送至数据采集设备（10）处理；所述的验证装置模拟需被验证的超导磁体的电磁特性，具有和需被验证的超导磁体相似的几何结构，以及相同的失超保护方案。通过触发贴附在超导线圈（2）上的触发加热条（4），触发每一个超导线圈使其作为最先失超的线圈而失超，验证任何一个超导线圈先失超时失超保护方案的可行性。