专利详情

专利名称	双通道多普勒外差干涉仪
申请号	CN201220719846.7	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN203011531U	公开（授权）日	2013.06.19
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	冯玉涛;白清兰;孙剑;严鹏
主分类号	G01J3/45(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/45(2006.01)I
专利有效期	双通道多普勒外差干涉仪至双通道多普勒外差干涉仪	法律状态	授权
说明书摘要	本实用新型提供了一种双通道多普勒外差干涉仪，以实现两个中心波长目标谱线多普勒频移的测量。该干涉仪包括干涉仪入瞳、准直系统、分束棱镜、闪耀光栅组件、条纹成像系统和探测器阵列，其中分束棱镜的核心部件是50：50半反半透的消偏振分光膜，条纹成像系统包括前镜组和后镜组，在准直系统与分束棱镜之间设置有窄带滤光切换装置，闪耀光栅组件包括：反射光路上分别设置的第一、第二，第三及第四闪耀光栅，四块闪耀光栅的工作面法线与相应的入射光轴均成Littrow角，其中第一与第三，第二与第四构成对应的工作光栅以实现各自波长的干涉，对应的工作光栅的光栅工作面中心沿光路至分束棱镜中心的距离之差形成该干涉仪的基础光程差。