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对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法

  • 申请号:CN201110424160.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所;中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103163448A
  • 公开(公开)日:2013.06.19
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法
申请号 CN201110424160.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103163448A 公开(授权)日 2013.06.19
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所;中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 于芳;赵岩
主分类号 G01R31/317(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/317(2006.01)I
专利有效期 对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法 至对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法,该方法包括:步骤101:横向配置;步骤102:横向测试;步骤103:横向延迟测试;步骤104:纵向配置;步骤105:纵向测试;步骤106:纵向延迟测试;步骤107:定位延迟故障。

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