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一种半导体结构

  • 申请号:CN201190000066.0
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN202651118U
  • 公开(公开)日:2013.01.02
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种半导体结构
申请号 CN201190000066.0 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN202651118U 公开(授权)日 2013.01.02
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 尹海洲;骆志炯;朱慧珑
主分类号 H01L29/78(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I
专利有效期 一种半导体结构 至一种半导体结构 法律状态
说明书摘要 本申请公开了一种半导体结构。该半导体结构包括半导体衬底和位于半导体衬底上方的半导体鳍片,在所述半导体衬底和所述半导体鳍片之间还包括刻蚀停止层,所述半导体鳍片的侧壁方向接近或位于硅的{111}晶面,并且所述半导体衬底为{112}Si衬底。所述半导体鳍片具有良好的表面质量和减少的晶体缺陷,可用于制造FinFET。

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