专利详情

专利名称	移位测量装置
申请号	CN201210088557.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102620658A	公开（授权）日	2012.08.01
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	曾琪峰;孙强;李也凡;张立华;甘泽龙
主分类号	G01B11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/02(2006.01)I
专利有效期	移位测量装置至移位测量装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	移位测量装置，涉及一种移位测量装置，为进一步提高信号的平均作用，需要在同样的探测单元数量的情况下，包含更多的探测周期，尽量在设计体积要求更小，或者光源的光斑所占的面积较小等制约下提高信号质量，包括标准光栅和光电读数头，光电读数头包括光源、指示光栅、光电接收单元和信号处理电路。光电接收单元由多个探测单元组成，多个探测单元组成探测单元阵列，并分成三个组，同相位的探测单元属于同一个组，同一个组的探测单元是相互连接的。光电接收单元探测至少一个周期性扫描信号。该光源发出入射光线，经由该扫描掩膜和该标准光栅调制，该光电接收单元接收经过调制的光信号。本发明所述的移位测量装置能有效提高信号的抗污染能力。