专利详情

专利名称	提取寄生参数的方法及系统
申请号	CN201110326502.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102364480A	公开（授权）日	2012.02.29
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	吴玉平;陈岚;叶甜春
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	提取寄生参数的方法及系统至提取寄生参数的方法及系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种提取寄生参数的方法，包括：将集成电路设计的版图划分为多个子区域；将几何同构的子区域置于同一个同构列表中；对每个同构列表中的至少一个子区域进行寄生参数的提取；根据同构列表中子区域间的几何关系和已提取的子区域的寄生参数，计算得到同构列表中其他子区域的寄生参数；将各子区域的寄生参数合并，以得到整个集成电路设计的寄生参数。通过合并寄生参数提取的任务，不用对整个版图区域进行寄生参数提取，减少了集成电路版图中寄生参数的提取数量，进而提高寄生参数提取速度，缩短集成电路设计的周期。