专利详情

专利名称	双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法
申请号	CN201210367038.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102853766A	公开（授权）日	2013.01.02
申请（专利权）人	中国科学院云南天文台	发明（设计）人	杨磊;程向明;苏婕;陈林飞;王建成;李彬华;冒蔚;铁琼仙
主分类号	G01B11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/00(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I
专利有效期	双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法至双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法，属于天文技术领域，解决了现有测量经纬仪高度轴偏摆的轴准直仪结构复杂、数据处理周期长的问题，包括以下步骤：步骤1，在经纬仪的高度轴的两端，分别设置一号码盘和二号码盘，在每支码盘相应的叉臂上分别设置两对呈对径正交分布的读数头；步骤2，采集望远镜指向各预设天顶距时，各对径读数头的读数之差，建立各预设天顶距与各对径读数头的读数之差的回归模型；步骤3，对观测待测星体时高度轴轴端偏摆的实时测算。本发明方法中的光栅码盘的测量结果是数字量，因此大大提高了高度轴线摆动量测量的效率，可以实现实时测定。