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Ⅲ-氮化物半导体材料pn结的制作方法

  • 申请号:CN200910236706.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN102054673A
  • 公开(公开)日:2011.05.11
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 Ⅲ-氮化物半导体材料pn结的制作方法
申请号 CN200910236706.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102054673A 公开(授权)日 2011.05.11
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 冉军学;王晓亮;李建平;胡国新;肖红领;王翠梅;杨翠柏;李晋闽
主分类号 H01L21/18(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/18(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I
专利有效期 Ⅲ-氮化物半导体材料pn结的制作方法 至Ⅲ-氮化物半导体材料pn结的制作方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种III-氮化物半导体材料pn结的制作方法,包括如下步骤:步骤1:在一衬底上生长p型GaN基材料;步骤2:在p型GaN基材料上面外延非掺杂GaN基材料;步骤3:在非掺杂的GaN基材料上生长非掺杂薄层;步骤4:在非掺杂薄层上生长n型GaN基材料。

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