专利详情

专利名称	基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方法
申请号	CN200910087353.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101763527A	公开（授权）日	2010.06.30
申请（专利权）人	中国科学院自动化研究所	发明（设计）人	王欣刚;刘东昌
主分类号	G06M9/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06M9/00(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I
专利有效期	基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方法至基于层状目标侧面纹理分析的张数检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明是一种基于层状目标侧面纹理分析张数的检测方法，处理步骤：对被测物体侧面纹理进行采样，采样后图像被输入到计算机中；将原始图像预处理后进行分段，得到子图像集合；取上述子图像集合中的一段子图像进行图像分割得到相应的前景纹理图像；把前景纹理图像投影或取样得到一维数组；分析该一维数组，得到子图像的张数估计值，将估计值保存待用；循环处理子图像集合中所有子图像得到一系列估计值；统计上述子图像的张数估计值，得到层状目标的张数。本发明将纹理分析引入到层状目标的张数检测中，巧妙应用Gabor滤波器进行纹理增强提高法的性能。本发明的分段处理，将原纹理图像分为许多段子图像，提高图像分割精度，增强检测的准确性。