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表面等离子体谐振测试仪

  • 申请号:CN98102366.5
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
  • 公开(公开)号:CN1238448
  • 公开(公开)日:1999.12.15
  • 法律状态:实质审查请求的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 表面等离子体谐振测试仪
申请号 CN98102366.5 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1238448 公开(授权)日 1999.12.15
申请(专利权)人 中国科学院电子学研究所 发明(设计)人 崔大付;周力夫
主分类号 G01H3/10 IPC主分类号 G01H3/10
专利有效期 表面等离子体谐振测试仪 至表面等离子体谐振测试仪 法律状态 实质审查请求的生效
说明书摘要 表面等离子体谐振测试仪,包括控制系统、光学 系统、机械运动结构、角度信号处理电路、光信号处理电路, 所说的机械运动结构包括光学平台2,安装在光学平台上的连 杆组3,螺杆6一端接有滑块4,另一端与电机7连接,在滑 块4下有一导轨5,拉杆9一端连接滑块4,另一端连接连杆 组3,角位移传感器8安装在螺杆6上。本发明不仅可应用于 研究金属薄膜光学特性和LB膜的分子结构、光学常数等,还 可用作传感器对生物、化学量的测量。

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