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偏振光栅自参考自准直二维测角装置

  • 申请号:CN201110006877.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
  • 公开(公开)号:CN102175184A
  • 公开(公开)日:2011.09.07
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 偏振光栅自参考自准直二维测角装置
申请号 CN201110006877.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102175184A 公开(授权)日 2011.09.07
申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 陈旺富;胡松
主分类号 G01B11/26(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/26(2006.01)I
专利有效期 偏振光栅自参考自准直二维测角装置 至偏振光栅自参考自准直二维测角装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明是一种偏振光栅自参考自准直二维测角装置,包括照明光源、物光栅、分光镜、物镜、被测面、偏振片、石英晶体、参考光栅、第一及第二偏振分光镜、第一及第二光电探测器,物光栅被物镜成像到无穷远处,经被测面反射后再次被物镜成像到物镜焦面上并与参考光栅重合。在参考光栅之前放置有偏振片和石英晶体,石英晶体使得物光栅像分解为两个偏振方向相互垂直的偏振像。透过参考光栅出射后,偏振像被偏振分光镜分离,通过测量两个偏振光分量的相对光强获得被测面的角度变化。采用不同方向的光栅可以测量不同方向的角位移,实现二维测量。本发明测量精度高,信号稳定性高,抗干扰能力强。

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