专利详情

专利名称	基于光强调制器的远场光束质量测量装置
申请号	CN201010535514.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102042874A	公开（授权）日	2011.05.04
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	黄林海;饶长辉;姜文汉
主分类号	G01J1/42(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/42(2006.01)I
专利有效期	基于光强调制器的远场光束质量测量装置至基于光强调制器的远场光束质量测量装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明是基于光强调制器的远场光束质量测量装置，由成像系统、光强调制器、光强探测器和计算机组成。光束首先通过成像系统，汇聚于光强调制器处，经光强调制器后的光将进入光强探测器，并由光强探测器捕获，最终由光强探测器通过计算机输出用以反映光束质量的数值。利用光强探测器结合光强调制器的形式测量光束质量，具有结构简单、制作容易、速度快，响应灵敏度高、探测精度高等特点；可作为高速自适应光学系统进行实时闭环的性能评判指标。