专利详情

专利名称	基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统
申请号	CN200910218491.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102042873A	公开（授权）日	2011.05.04
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	达争尚;刘力;田新锋;李东坚
主分类号	G01J1/42(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/42(2006.01)I
专利有效期	基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统至基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法，该方法包括以下步骤：1)校准CCD器件：2)平行光场强度均匀性认定。本发明采用积分球将均匀强度标准传递至CCD，解决了均匀强度基准问题；本发明采用奇异点剔除、“标准块”方法进一步降低了CCD器件电子噪声的影响，保证了基准的精度；本发明采用旋转、平移方式实现了小靶面的CCD对大口径光场均匀性的认定，提高了分辨率；本发明采用以上方法认定的光场均匀性误差是确定的，即选定“标准块”时设定的误差是确定，能够精确测量平行光场的强度。