专利详情

专利名称	衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法
申请号	CN201210189191.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102735428A	公开（授权）日	2012.10.17
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	胡中华;朱菁;杨宝喜;肖艳芬;彭雪峰;陈明;曾爱军;黄惠杰
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法至衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种用于投影光刻照明系统的衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法，该测量装置包括照明单元、能量监测单元、衍射光学元件固定支架、衍射图样测量单元和能量利用率测量单元。通过测量衍射光学元件产生的衍射图样及各级衍射光斑的能量分布，可准确地评价衍射光学元件的光学性能。本发明不仅可以实现对衍射光学元件产生的远场衍射图样的直接测量，而且可以实现对待测衍射光学元件的能量利用率、零级衍射效率及高阶衍射效率的测量。本测量装置结构简单，操作方便，测量结果准确可靠。