专利详情

专利名称	一种测量非线性晶体热功率大小的装置
申请号	CN201010257008.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101949871A	公开（授权）日	2011.01.19
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	熊波;李晋闽;林学春;侯玮;郭林;陈然;马建立;农光壹
主分类号	G01N25/20(2006.01)I	IPC主分类号	G01N25/20(2006.01)I;G01R21/04(2006.01)I
专利有效期	一种测量非线性晶体热功率大小的装置至一种测量非线性晶体热功率大小的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种测量非线性晶体热功率大小的装置，包括非线性晶体、温度传感器、智能模块、控温电源、控温炉和示波器。非线性晶体放置于控温炉内部，工作于某一设定的温度T1条件下，起到激光变频的作用；温度传感器用于测量非线性晶体的实际工作温度T0，并将该值反馈给智能模块；智能模块用于将温度传感器测量到的非线性晶体的实际工作温度T0与设定的温度T1比较，据此调节控温电源向控温炉输出的加热电压，将非线性晶体控制于设定的工作温度T1下；控温炉采用加热丝作为加热元件；温度传感器、智能模块、控温电源和控温炉构成控温系统，示波器实时测量控温电源向控温炉输出的加热电压的波形W。利用本发明，实现了非线性晶体热功率大小的测量。