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一种可调整量程的堆叠测量电路

  • 申请号:CN201010256952.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN101937091A
  • 公开(公开)日:2011.01.05
  • 法律状态:专利申请权、专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种可调整量程的堆叠测量电路
申请号 CN201010256952.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101937091A 公开(授权)日 2011.01.05
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 刘梦新;韩郑生;赵超荣;刘刚
主分类号 G01T1/02(2006.01)I IPC主分类号 G01T1/02(2006.01)I
专利有效期 一种可调整量程的堆叠测量电路 至一种可调整量程的堆叠测量电路 法律状态 专利申请权、专利权的转移
说明书摘要 本发明涉及电离辐射剂量测量领域,公开了一种可调整量程的堆叠测量电路,包括:一只或多只基于绝缘体上硅的双探头PMOS辐射剂量计、工作模式选择开关SW以及恒流源Isd;基于绝缘体上硅的双探头PMOS辐射剂量计为一只时,工作模式选择开关SW将该PMOS辐射剂量计的源电极连接于恒流源Isd,用导线将该辐射剂量计漏电极接至地线;基于绝缘体上硅的双探头PMOS辐射剂量计为多只时,该多只PMOS辐射剂量计采用漏/源相接的级联方式连接,并将各自正栅电极或背栅电极与漏电极短接,工作模式选择开关SW将第一级辐射剂量计的源电极连接于所述恒流源Isd。本发明提供的可调整量程的堆叠测量电路,可适应不同监测环境的需要。

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