专利详情

专利名称	一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统
申请号	CN201010262884.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101936903A	公开（授权）日	2011.01.05
申请（专利权）人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	发明（设计）人	张永刚;顾溢
主分类号	G01N21/64(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I
专利有效期	一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统至一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统，引入了第二重调制，包括激光器、光路部件、傅立叶变换光谱仪、锁相放大器。光路部件包括反射镜、透镜和抛物面镜，构成测试光路；激光器具有内部调制功能，其激发的调制激光经过反射镜转换方向后由透镜聚焦照射在被测样品上，被测样品产生的光荧光通过抛物面镜收集转向准直后以宽光束形式送至傅立叶变换光谱仪。锁相放大器的信号输入端与傅立叶变换仪中的前置放大器相连，信号参考输入端与激光器的脉冲发生器相连，输出端与傅立叶变换光谱仪中的电子学系统相连。本发明选择合适的光激发激光器并对其进行调制，同时在信号检测中增加锁相放大和解调，以此提高光荧光测试的灵敏度。