专利详情

专利名称	偏振检测装置中器件误差的测量方法
申请号	CN201010268324.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101936774A	公开（授权）日	2011.01.05
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	李中梁;王向朝;唐锋
主分类号	G01J4/04(2006.01)I	IPC主分类号	G01J4/04(2006.01)I
专利有效期	偏振检测装置中器件误差的测量方法至偏振检测装置中器件误差的测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种偏振检测装置中器件误差的测量方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，其特点在于，斯托克斯参数已知的线偏振光入射至所述的偏振检测装置，设定第一次测量的初始状态并进行测量；设定第二次测量的初始状态并进行测量，第二次测量的初始状态是在第一次测量的初始状态的基础上，分别旋转相位延迟器件和检偏器一定的角度，满足检偏器的旋转角度为相位延迟器件旋转角度的2倍，且旋转方向相同，对测量进行数据处理获得器件的误差。本发明在无需拆卸偏振检测装置器件的情况下，可快速测量相位延迟器件和检偏器的各类误差。