一种光学薄膜偏振保真度的测量方法
- 申请号：CN201210244004.5
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号：CN102749187A
- 公开(公开)日：2012.10.24
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 一种光学薄膜偏振保真度的测量方法 | ||
| 申请号 | CN201210244004.5 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102749187A | 公开（授权）日 | 2012.10.24 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 刘洪祥;刘志国;庞薇 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种光学薄膜偏振保真度的测量方法 至一种光学薄膜偏振保真度的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种光学薄膜偏振保真度的测量方法，其特征在于：激光器发射特定波长激光光束，通过起偏器后产生振动方位角45°线偏振光，经待测光学薄膜元件反射后，旋转检偏器，通过光功率计测量最大功率与最小功率，则最大功率与最小功率之比即为光学薄膜的偏振保真度；通过此方法可以测量多个光学元件组成的光学系统的偏振保真度。该测量装置具有结构简单，成本低，操作方便等优点。 | ||
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