人工假体涂层厚度测定装置
- 申请号：CN201220008606.6
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院上海硅酸盐研究所
- 公开(公开)号：CN202505523U
- 公开(公开)日：2012.10.31
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 人工假体涂层厚度测定装置 | ||
| 申请号 | CN201220008606.6 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN202505523U | 公开（授权）日 | 2012.10.31 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明（设计）人 | 季珩;郑学斌;黄利平 |
| 主分类号 | A61F2/46(2006.01)I | IPC主分类号 | A61F2/46(2006.01)I |
| 专利有效期 | 人工假体涂层厚度测定装置 至人工假体涂层厚度测定装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种人工假体涂层厚度测定装置，所述人工假体包括基材及喷涂于所述基材上的生物涂层，该装置包括：底座，人工假体定位于所述底座上；固定于所述底座上的活动支架构件；及固定于所述活动支架构件上的厚度测量构件，通过调节所述活动支架构件，所述厚度测量构件配置为与所述人工假体保持相对固定，所述厚度测量构件包括与所述人工假体的表面相接触的测量头；所述涂层的厚度由在所述人工假体的表面上喷涂涂层前后的所述测量头的相对位移确定。 | ||
交易流程
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专利 -
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