专利详情

专利名称	辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置
申请号	CN201210132427.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102879645A	公开（授权）日	2013.01.16
申请（专利权）人	中国科学院等离子体物理研究所	发明（设计）人	刘亮;刘甫坤;单家方;杨永;王茂;贾华;程敏
主分类号	G01R25/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R25/00(2006.01)I
专利有效期	辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置至辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置，包括有依次相连接的隔直器、陶瓷窗一、真空波导、陶瓷窗二、真空波导二、过渡波导、直波导和天线单元，还包括有子波导引出模块、两个波导同轴转换器、矢量网络分析仪和若干波导匹配负载；子波导引出模块包括底盘、引出波导和过渡波导，将引出波导装入天线单元的某一路子波导中，若干波导匹配负载分别装入其余各子波导中，子波导引出模块通过法兰与波导同轴转换器一连接，波导同轴转换器与矢量网络分析仪相连，矢量网络分析仪连接波导同轴转换器二，波导同轴转换器二再连接隔直器。本发明可以对辐射端面为曲面的低杂波天线进行相位测量，不需要计算，直接测出相位本底数据，有结构简单，精确度高，误差小的优点。