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一种非极性GaN薄膜及其制备方法

  • 申请号:CN200910200280.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司;中国科学院上海光学精密机械研究所;上海半导体照明工程技术研究中心
  • 公开(公开)号:CN101717923A
  • 公开(公开)日:2010.06.02
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种非极性GaN薄膜及其制备方法
申请号 CN200910200280.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101717923A 公开(授权)日 2010.06.02
申请(专利权)人 上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司;中国科学院上海光学精密机械研究所;上海半导体照明工程技术研究中心 发明(设计)人 周健华;潘尧波;颜建锋;郝茂盛;周圣明;杨卫桥;李抒智;马可军
主分类号 C23C16/34(2006.01)I IPC主分类号 C23C16/34(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I
专利有效期 一种非极性GaN薄膜及其制备方法 至一种非极性GaN薄膜及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种非极性GaN薄膜及其制备方法。该薄膜包括:LiAlO2衬底以及在该衬底上依次生长的低温保护层、U-AlGaN层和高温U-GaN层。其制备方法包括如下步骤:步骤一,生长低温保护层:在MOCVD系统中,以LiAlO2(100)面做衬底,在N2保护下,升温到800-950℃;切换到氢气气氛生长低温保护层U-GaN,反应室压力为150-500torr,TMGa流量为1-50sccm;步骤二,生长U-AlGaN层:降低反应室压力至100-300torr,升温到1000-1100℃,生长U-AlGaN层,TMGa流量为10-150sccm,TMAl的摩尔流量与TMGa流量之比为1/5-2;步骤三,生长高温U-GaN层:停止通入TMAl,继续生长U-GaN。本发明可以有效改善(100)面铝酸锂(LiAlO2)衬底上非极性m(10-10)面GaN薄膜的表面形貌,有利于提高器件的工作效率。

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