一种带有绝缘埋层的厚膜材料的制备方法
- 申请号:CN201010211396.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 公开(公开)号:CN101901753A
- 公开(公开)日:2010.12.01
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种带有绝缘埋层的厚膜材料的制备方法 | ||
| 申请号 | CN201010211396.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN101901753A | 公开(授权)日 | 2010.12.01 |
| 申请(专利权)人 | 上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明(设计)人 | 魏星;王湘;杨建;张苗;王曦;林成鲁 |
| 主分类号 | H01L21/20(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L21/20(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种带有绝缘埋层的厚膜材料的制备方法 至一种带有绝缘埋层的厚膜材料的制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种带有绝缘埋层的厚膜材料的制备方法,包括如下步骤:提供一支撑衬底;采用研磨减薄工艺修正所述支撑衬底,以减小衬底的总厚度偏差;抛光支撑衬底表面以降低粗糙度;将支撑衬底与器件层衬底通过一绝缘层键合在一起;将器件层衬底减薄至其厚度与最终器件层目标厚度差的范围是1μm至10μm;抛光减薄后的器件层衬底。本发明的优点在于,通过引入衬底修正的方法对支撑衬底的均匀性进行修正,以提高最终衬底的顶层半导体层的厚度均匀性。 | ||
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