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基于(Bi2O31-X(Y2O3X固体电解质薄膜的非挥发记忆元件及其制备方法

  • 申请号:CN200910079449.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院物理研究所
  • 公开(公开)号:CN101834272A
  • 公开(公开)日:2010.09.15
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于(Bi2O31-X(Y2O3X固体电解质薄膜的非挥发记忆元件及其制备方法
申请号 CN200910079449.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101834272A 公开(授权)日 2010.09.15
申请(专利权)人 中国科学院物理研究所 发明(设计)人 史磊;尚大山;孙继荣;赵同云;沈保根
主分类号 H01L45/00(2006.01)I IPC主分类号 H01L45/00(2006.01)I;C01G29/00(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I
专利有效期 基于(Bi2O31-X(Y2O3X固体电解质薄膜的非挥发记忆元件及其制备方法 至基于(Bi2O31-X(Y2O3X固体电解质薄膜的非挥发记忆元件及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种基于(Bi2O3)1-x(Y2O3)x固体电解质薄膜的非挥发性记忆元件,所述非挥发性记忆元件包括衬底、底电极、(Bi2O3)1-x(Y2O3)x固体电解质薄膜和顶电极,其中(Bi2O3)1-x(Y2O3)x固体电解质薄膜夹在底电极和顶电极之间,底电极位于所述衬底上,两条引线分别由底电极和顶电极引出,并且(Bi2O3)1-x(Y2O3)x固体电解质薄膜中x的范围为0.25<x<0.43。该非挥发性记忆元件的厚度为10-1000nm。其中的(Bi2O3)1-x(Y2O3)x固体电解质薄膜是利用脉冲激光照射(Bi2O3)1-x(Y2O3)x靶材沉积而成,所述靶材是将Bi2O3粉末和Y2O3粉末混合烧结制备的。本发明的基于(Bi2O3)1-x(Y2O3)x固体电解质薄膜的非挥发性记忆元件具有体积小、结构简单、具有非挥发记忆功能、低能耗、无机械运动部件等优点,并且它的性能对氧气压,温度,和化学计量比等制备条件不敏感。

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