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一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法

  • 申请号:CN201010162332.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN101834229A
  • 公开(公开)日:2010.09.15
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法
申请号 CN201010162332.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101834229A 公开(授权)日 2010.09.15
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 肖海波;曾湘波;谢小兵;姚文杰;彭文博;刘石勇
主分类号 H01L31/18(2006.01)I IPC主分类号 H01L31/18(2006.01)I
专利有效期 一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法 至一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法,该方法包括:在柔性衬底上,采用等离子体辅助化学气相沉积技术依次生长N型层、本征层和P型层,其中,对本征层的起始层进行氢等离子体刻蚀;沉积完P型层后,将电池从反应室取出,用磁控溅射生长ITO透明电极。利用本发明,能改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能,同时处理过程简便易行,具有低成本可规模化生产的优点。

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