一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法
- 申请号:CN201010162332.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN101834229A
- 公开(公开)日:2010.09.15
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法 | ||
| 申请号 | CN201010162332.1 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN101834229A | 公开(授权)日 | 2010.09.15 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 肖海波;曾湘波;谢小兵;姚文杰;彭文博;刘石勇 |
| 主分类号 | H01L31/18(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/18(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法 至一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能的方法,该方法包括:在柔性衬底上,采用等离子体辅助化学气相沉积技术依次生长N型层、本征层和P型层,其中,对本征层的起始层进行氢等离子体刻蚀;沉积完P型层后,将电池从反应室取出,用磁控溅射生长ITO透明电极。利用本发明,能改善硅薄膜太阳能电池微结构和电学性能,同时处理过程简便易行,具有低成本可规模化生产的优点。 | ||
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