专利详情

专利名称	一种基于保留时间锁定-气相色谱-四极杆质谱选择性离子扫描的化学轮廓分析方法
申请号	CN201110133061.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102798684A	公开（授权）日	2012.11.28
申请（专利权）人	中国科学院大连化学物理研究所;大连理工大学	发明（设计）人	许国旺;李勇;阮强;路鑫;林晓惠
主分类号	G01N30/72(2006.01)I	IPC主分类号	G01N30/72(2006.01)I
专利有效期	一种基于保留时间锁定-气相色谱-四极杆质谱选择性离子扫描的化学轮廓分析方法至一种基于保留时间锁定-气相色谱-四极杆质谱选择性离子扫描的化学轮廓分析方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种保留时间锁定-气相色谱-四极杆质谱-选择性离子扫描进行化学轮廓分析的方法，首先采用气相色谱-质谱全扫描方法分析质量控制样品，采用质谱自动去卷积和峰识别系统对获得的全扫描信息进行质谱去卷积和峰识别，从AMDIS的结果文件中提取识别的化合物所对应的色谱保留时间信息，并根据该信息对不同保留时间的色谱峰进行分组；然后从原始数据文件中提取质谱信息，进行特征离子选定。建立保留时间锁定的GC-MS方法并对待分析的所有样品在该方法下进行选择离子检测。本发明使得采用气相色谱-质谱得到的化学轮廓分析数据的可靠性、有效性和可操作性得到提高。本方法也可推广到以液相色谱-质谱为基础的化学轮廓分析。