专利详情

专利名称	用于冷原子系统的高分辨成像装置
申请号	CN201210417668.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102879915A	公开（授权）日	2013.01.16
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	段亚凡;王育竹;崔国栋
主分类号	G02B27/48(2006.01)I	IPC主分类号	G02B27/48(2006.01)I;G02B27/58(2006.01)I;G02B27/10(2006.01)I
专利有效期	用于冷原子系统的高分辨成像装置至用于冷原子系统的高分辨成像装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种用于冷原子系统的高分辨成像装置，该装置包括无序光晶格生成光路和成像光路，其特点在于所述的无序光晶格生成光路包括激光束，沿该激光束方向依次由第一透镜、第二透镜、扩散膜、反射镜和双色镜组成，所述的第一透镜和第二透镜组成扩束系统，所述的反射镜和双色镜与光束方向成45°；所述的成像光路包括成像照明光束，沿该成像照明光束方向依次由真空池、第三透镜、双色镜、第四透镜、CCD组成。本发明将激光散斑产生光路和成像光路组合起来，利用一个消像差透镜实现对冷原子团加载无序光晶格，并可以实现对原子团的高分辨率成像，具有结构简单，光路集成化程度高，占用空间少，调节方便等优点。