专利详情

专利名称	一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统
申请号	CN201220104025.2	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN202661173U	公开（授权）日	2013.01.09
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	杨世骥;王建宇;贾建军;舒嵘;何志平;吴金才;江昊
主分类号	G01J4/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J4/00(2006.01)I
专利有效期	一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统至一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统，它由高重频窄脉冲激光源、衰减片、分光棱镜、透射式目标模块、反射式目标模块、检偏器及旋转电机组件、第一单光子探测器、一维电动平台、第二单光子探测器、单光子计数器、电机控制器和计算机组成，特别适用于自动化测量的场合。该专利基于光学偏振原理，采用双光路补偿、单光子探测等技术，设计合理可行的光机结构，利用计算机自动控制各旋转电机和电动平台，最终实现自动化测量目标对单光子偏振态影响的目的。