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一种产生强太赫兹辐射的装置和方法

  • 申请号:CN200810222553.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院物理研究所
  • 公开(公开)号:CN101677172
  • 公开(公开)日:2010.03.24
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种产生强太赫兹辐射的装置和方法
申请号 CN200810222553.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101677172 公开(授权)日 2010.03.24
申请(专利权)人 中国科学院物理研究所 发明(设计)人 王伟民;盛政明;张杰
主分类号 H01S3/00(2006.01)I IPC主分类号 H01S3/00(2006.01)I
专利有效期 一种产生强太赫兹辐射的装置和方法 至一种产生强太赫兹辐射的装置和方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了一种产生强太赫兹辐射的装置,包括:一个气体填充管; 一个激光器,用于生成不对称激光脉冲并将所述不对称激光脉冲入射到所述 填充管,所述不对称激光脉冲传播方向与所述气体填充管的轴线方向相同; 所述不对称激光脉冲的能量高于所述填充管中气体的电离势能。同时,本发 明还提供了相应的产生强太赫兹辐射的方法。本发明可以稳定产生100MW 量级THz辐射;得到的太赫兹辐射的波形固定为单周期脉冲,其频率和强度 具有很好的可控性和稳定性。并且,本发明能够在桌面尺度的装置下产生超 强THz辐射。

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