一种畸变测试仪
- 申请号:CN200810151034.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN101676704
- 公开(公开)日:2010.03.24
- 法律状态:专利申请权、专利权的转移
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专利详情
| 专利名称 | 一种畸变测试仪 | ||
| 申请号 | CN200810151034.5 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN101676704 | 公开(授权)日 | 2010.03.24 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 赵建科;张周锋;周艳;王锋;王虎;昌明 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种畸变测试仪 至一种畸变测试仪 | 法律状态 | 专利申请权、专利权的转移 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种畸变测试仪,包括转台,该测试仪还包括光源以及显微成 像系统;光源以及显微成像系统处于同一光轴上并置于转台两侧。本发明提供 了一种测量精度高、效率高、结构稳定且功能可以扩展的畸变测试仪。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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平台保障
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