专利详情

专利名称	一种预测多注速调管存储故障的方法
申请号	CN200910082794.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101706549	公开（授权）日	2010.05.12
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	丁耀根;丁海兵;徐旭哲
主分类号	G01R31/25(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/25(2006.01)I
专利有效期	一种预测多注速调管存储故障的方法至一种预测多注速调管存储故障的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种预测多注速调管存储故障的方法，涉及电真空器件技术，是对存放40～45天的无离子泵多注速调管的阴极发射特性进行测量，按取样时间间隔15秒纪录初始3分钟内阴极发射电流值，绘出阴极发射电流值随时间变化的曲线，若阴极发射电流值随时间的变化曲线出现先下降而后上升的现象，并且下降的比例超过额定值的10％，则可预测该器件经过半年以上的存放后，出现存储故障的概率大于60％。本发明方法适合不带有离子泵的多注速调管，也可推广到无离子泵速调管、无离子泵行波管等其他无离子泵微波电真空器件。