专利详情

专利名称	一种抑制多注速调管双间隙耦合腔π模振荡的装置
申请号	CN200910082793.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101707174	公开（授权）日	2010.05.12
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	丁耀根;丁海兵;孙小欣
主分类号	H01J23/00(2006.01)I	IPC主分类号	H01J23/00(2006.01)I;H01J25/10(2006.01)I
专利有效期	一种抑制多注速调管双间隙耦合腔π模振荡的装置至一种抑制多注速调管双间隙耦合腔π模振荡的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种抑制多注速调管双间隙耦合腔π模振荡的装置，涉及微波电真空器件技术，包括耦合环，吸收腔，微波吸收材料，调谐螺钉，吸收腔内涂覆微波吸收材料，并设有耦合环。通过选择吸收腔的形状和尺寸、涂覆材料参数、耦合环的位置和尺寸，可有效地抑制多注速调管双间隙耦合腔输出电路中具有π模场形分布的高次模振荡，降低由该类模式引起的杂谱电平。本发明对具有双间隙耦合腔输出电路的多注速调管能够抑制π模振荡，降低杂谱电平。