轴锥镜面形的测量装置和测量方法
- 申请号：CN201210431104.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN102901463A
- 公开(公开)日：2013.01.30
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 轴锥镜面形的测量装置和测量方法 | ||
| 申请号 | CN201210431104.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN102901463A | 公开（授权）日 | 2013.01.30 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 袁乔;曾爱军;张善华;黄惠杰 |
| 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
| 专利有效期 | 轴锥镜面形的测量装置和测量方法 至轴锥镜面形的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种轴锥镜面形的测量装置和测量方法，该装置由移相干涉仪、平面标准镜、聚焦透镜和平面反射镜组成，其位置关系是：沿所述的移相干涉仪出射光束前进方向依次是所述的平面标准镜、聚焦透镜和平面反射镜，在所述的平面标准镜和聚焦透镜之间设置待测轴锥镜的插口。本发明具有装置结构简单、测量方法操作方便的特点。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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确认变更
成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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