谱库的生成方法和串联质谱谱图鉴定方法
- 申请号:CN201010208640.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院计算技术研究所
- 公开(公开)号:CN101871945A
- 公开(公开)日:2010.10.27
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 谱库的生成方法和串联质谱谱图鉴定方法 | ||
| 申请号 | CN201010208640.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN101871945A | 公开(授权)日 | 2010.10.27 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明(设计)人 | 叶叮;付岩;孙瑞祥;贺思敏 |
| 主分类号 | G01N33/68(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N33/68(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I |
| 专利有效期 | 谱库的生成方法和串联质谱谱图鉴定方法 至谱库的生成方法和串联质谱谱图鉴定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供一种谱图数据库的生成方法,包括:选取已解析的实验串联质谱谱图,所述已解析的串联质谱谱图中包括母离子肽序列、电荷、修饰类型和位点在内的信息;从所述已解析的实验串联质谱谱图中去除冗余谱图,得到代表谱;将所述代表谱所对应的母离子肽序列按理论碎裂模式进行划分,得到与所述代表谱相对应的理论谱;合并所述代表谱与所对应的理论谱,得到优化谱;对所述优化谱做谱峰标注,由谱峰标注后的优化谱生成谱图数据库。本发明还提供了一种串联质谱谱图鉴定方法。本发明在将候选谱与待解析串联质谱谱图匹配的过程中,考虑了可能由潜在修饰引入的谱峰质荷比偏移,使得含修饰的碎片离子谱峰得到匹配,达到更好的修饰谱图鉴定效果。 | ||
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言