专利详情

专利名称	测量材料非线性电极化率的方法
申请号	CN200810100819.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101515006	公开（授权）日	2009.08.26
申请（专利权）人	国家纳米科学中心	发明（设计）人	戚桂村;杨延莲;严昊;关丽;裘晓辉;王琛
主分类号	G01R29/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R29/00(2006.01)I;G01R25/02(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01N13/10(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I
专利有效期	测量材料非线性电极化率的方法至测量材料非线性电极化率的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种测量材料非线性电极化率系数的方法，包括以下步骤：a)使用具有导电针尖的扫描探针显微镜，在抬高模式下对待测样品表面进行扫描；b)测量驱动针尖振荡的激励交变信号和针尖实际振荡信号之间的相位角差值Δθ随针尖偏压V_t的变化；c)解释测量得到的Δθ与V_t 以获取待测样品的电极化率系数；本发明通过利用CSPM，可以对材料在纳米范围内的非线性电极化率系数进行测量，对于研究材料的非线性具有非常重要的意义，这是一种新的测量材料非线性电极化率系数的手段，由于SPM 的高分辨率，可以实现对非均匀样品的在针尖曲率半径尺寸面积的逐点测量，也可以实现纳米区域内的测量。