带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜
- 申请号:CN200710065294.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:国家纳米科学中心
- 公开(公开)号:CN101286005
- 公开(公开)日:2008.10.15
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜 | ||
| 申请号 | CN200710065294.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN101286005 | 公开(授权)日 | 2008.10.15 |
| 申请(专利权)人 | 国家纳米科学中心 | 发明(设计)人 | 刘前;曹四海;郭传飞;李晓军 |
| 主分类号 | G03F7/004(2006.01)I | IPC主分类号 | G03F7/004(2006.01)I |
| 专利有效期 | 带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜 至带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,包括基底,和依次沉积在基底上的 第一保护层、氧化物掩模层、第二保护层、第一金属薄膜和第二金属薄膜;所述的第一金属 薄膜和第二金属薄膜,是两种金属在相对较低温度≤500℃下,能形成二元合金的材料的组合; 所述的第一保护层厚度为100nm-200nm,所述的掩模层厚度为2nm-30nm,所述的第二保护 层厚度为10nm-50nm。本发明的带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,采用超分辨近场结构和 无机热阻膜结合的多层膜结构。在微纳米加工过程中,采用此多层膜结构制作光刻原片,利 用普通曝光系统或直写式曝光系统实现曝光,能够简单获得高分辨率的曝光图形。能够在简 单地获得高分辨率曝光图形的同时,有效增加纳米构造的高度。 | ||
交易流程
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