
一种用于氮化碳薄膜制备的化学吸附方法
- 申请号:CN201010560898.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所;中国科学院嘉兴微电子仪器与设备工程中心
- 公开(公开)号:CN102011103A
- 公开(公开)日:2011.04.13
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种用于氮化碳薄膜制备的化学吸附方法 | ||
申请号 | CN201010560898.X | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102011103A | 公开(授权)日 | 2011.04.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所;中国科学院嘉兴微电子仪器与设备工程中心 | 发明(设计)人 | 刘键;饶志鹏;夏洋;石莎莉 |
主分类号 | C23C16/36(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C16/36(2006.01)I;C30B25/00(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I |
专利有效期 | 一种用于氮化碳薄膜制备的化学吸附方法 至一种用于氮化碳薄膜制备的化学吸附方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及氮化碳的制备技术,具体涉及一种用于氮化碳薄膜制备的化学吸附方法,包括如下步骤:在原子层沉积腔室中,通入气相前驱体,形成一种具有未成键电子的物质,与衬底表面原子形成共价键,实现化学吸附;通入与衬底表面发生取代反应的气体,形成所需的sp3杂化的氮碳单键结构。本发明应用于原子层沉积技术制备氮化碳薄膜,使用该方法形成的结构能够利用每一层间的相互作用,实现结构上的一致性、单晶性。 |
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