
多b值弥散张量成像采样方法
- 申请号:CN201010612331.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院深圳先进技术研究院
- 公开(公开)号:CN102008308A
- 公开(公开)日:2011.04.13
- 法律状态:授权
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 多b值弥散张量成像采样方法 | ||
申请号 | CN201010612331.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102008308A | 公开(授权)日 | 2011.04.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明(设计)人 | 刘伟;吴垠;刘新;郑海荣;邹超;戴睿彬;潘艳丽;张娜;谢国喜 |
主分类号 | A61B5/055(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/055(2006.01)I |
专利有效期 | 多b值弥散张量成像采样方法 至多b值弥散张量成像采样方法 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种多b值弥散张量成像采样方法,包括以下步骤:在第一b值下单次扫描整个视野,采样获得第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度;根据第一b值下单次扫描信噪比及指定的第一b值下多次扫描信噪比计算得到第一b值下多次扫描次数;根据第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度计算得到第二b值下单次扫描信噪比;根据第二b值下单次扫描信噪比及指定的第二b值下多次扫描信噪比计算得到第二b值下多次扫描次数。上述多b值弥散张量成像采样方法,通过对第一b值实施单次预扫描及不同b值的信噪比遵循的关系,便可以自适应的选定各个b值实际需要的重复扫描次数,从而降低了总的采样次数,大大降低了采样的时间,提高了弥散张量成像的速度。 |
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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