正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法
- 申请号:CN201210132047.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
- 公开(公开)号:CN102648856A
- 公开(公开)日:2012.08.29
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法 | ||
| 申请号 | CN201210132047.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN102648856A | 公开(授权)日 | 2012.08.29 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明(设计)人 | 丰宝桐;魏书军;魏龙;马创新;李可;胡婷婷;孙芸华;王培林;李晓辉;燕新强;胡选侯;杜垚垚;李国仁 |
| 主分类号 | A61B6/02(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法 至正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法。正电子发射断层扫描仪包括探测环,探测环由多个探测器围成,该符合判选方法包括:对每个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器进行判断,并根据各判断结果获得相关数据,其中如果两个探测器所探测的单事例的时间差在符合时间窗以内,则该两个探测器为相关探测器,其中,任一探测器对面的探测器是指:所述探测环中以该任一探测器为圆心的预定角度的扇形区中的各探测器;以及根据相关数据来判断两个相关探测器之间是否唯一相关,并将唯一相关的两个探测器所探测的单事例判定为符合事例。本发明具有符合判选快速、高效和应用范围广的优点。 | ||
交易流程
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