专利详情

专利名称	一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法
申请号	CN201010256391.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101949688A	公开（授权）日	2011.01.19
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	李斌成;曲哲超;刘卫静;韩艳玲
主分类号	G01B11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法至一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法，属于光电工程技术领域。其特征在于：被测可调谐激光束入射到两块平凹高反射镜组成的稳定谐振腔，腔内充有在可调谐激光器输出波段内有较强吸收谱线的气体。调谐激光器输出波长，使其扫过一个完整的气体吸收峰。由于气体的吸收强度与入射光波长有关，在入射光波长不同时，衰荡腔输出信号的衰荡时间就不同。分别测量腔内有气体吸收时各波长处的光腔衰荡时间，进而可得到不同激光波长处的气体吸收系数，即吸收光谱图，该光谱图实际上是入射光谱与气体吸收光谱的卷积，通过拟合得出的该光谱曲线线宽和HITRAN数据库中所给的气体吸收线宽，即可得到激光器输出光谱线宽。本发明提出了激光器线宽测量的新方法，其测量结果不受激光器强度波动的影响，并且具有结构简单，测量精度高等优点。