专利详情

专利名称	对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置
申请号	CN02286529.2	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN2583668	公开（授权）日	2003.10.29
申请（专利权）人	中国科学技术大学	发明（设计）人	高琛;罗震林
主分类号	G01N23/20	IPC主分类号	G01N23/20;G01N23/223
专利有效期	对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置至对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置	法律状态	授权
说明书摘要	本实用新型是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置，它涉及利用X射线衍射、X射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的装置。X射线源1、X射线透镜 3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均置于仪器平台13上，X射线源与X射线透镜形成入射光路，能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X 射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台上，平移样品台使被测样品6位于该焦点，然后用能量探测器接收从被测样品上衍射的X射线和发射的荧光X射线，再传输到计算机12中进行数据处理，得到衍射谱和荧光光谱，从而分析出结构和成分。本实用新型操作简单，测量速度较快，能够适用于各种组合样品。