专利详情

专利名称	一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置
申请号	CN200920031640.3	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN201408007	公开（授权）日	2010.02.17
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	吴易明;高立民;胡晓东;赵军丽
主分类号	G01C15/10(2006.01)I	IPC主分类号	G01C15/10(2006.01)I
专利有效期	一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置至一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置	法律状态	授权
说明书摘要	一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置，包括底座以及设置于底座上的竖轴及码盘，竖轴及码盘与U型架连接，U型架可绕竖轴及码盘在水平面内旋转，U型架的上端连接一横轴，还包括设置于横轴上的斜方棱镜，以斜方棱镜的中心为坐标原点，建立坐标系OXYZ，横轴与斜方棱镜的Z轴同轴心，并能带动斜方棱镜绕Z轴单方向旋转22.5°；斜方棱镜的两侧分别设置自准直仪和直角反射棱镜，自准直仪发出光线经斜方棱镜和直角反射棱镜后，又能回到自准直经纬仪；支架的底部还设置有实现斜方棱镜水平调整的水泡。本实用新型测量精度可以控制在8″以内，同时具有测量原理简单，操作容易等优点。本实用新型可用于直角反射棱镜装调过程中法平面铅垂度的检测。