专利详情

专利名称	一种用于超导磁体磁场分布测量装置
申请号	CN200820124544.9	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN201322791	公开（授权）日	2009.10.07
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	王春忠;王秋良;戴银明
主分类号	G01R33/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01R33/02(2006.01)I
专利有效期	一种用于超导磁体磁场分布测量装置至一种用于超导磁体磁场分布测量装置	法律状态
说明书摘要	一种用于超导磁体磁场分布测量装置，包括测量杆(1)、锁紧夹具(2)、导向套(3)、安装板(4)、XY平移台(5)、旋转台(6)，转换板(7)和探头夹具(8)。旋转台(6)安装在转换板(7)上，XY平移台(5)安装在旋转台(6)上，安装板(4)固定在XY平移台(5)上，导向套(3)固定在安装板(4)上，锁紧夹具(2)安装在导向套(3)端面上，测量杆(1)穿过锁紧夹具(2)孔插入导向套(3)内孔中，穿过XY平移台(5)、旋转台 (6)和转换板(7)。探头夹具(8)安装在测量杆(1)的下端部。通过调整机构旋钮，使测量探头在XYZ三个方向平移，以及绕Z轴360°旋转，实现在超导磁体室温孔内任意点磁场的测量。