单光子计数成像仪
- 申请号:CN200720032701.9
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN201262572
- 公开(公开)日:2009.06.24
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 单光子计数成像仪 | ||
申请号 | CN200720032701.9 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN201262572 | 公开(授权)日 | 2009.06.24 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 朱香平;赵宝升;缪振华;刘永安;邹玮;张兴华 |
主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I;G01J1/44(2006.01)I;G01T1/17(2006.01)I;G01T1/18(2006.01)I;H04N5/335(2006.01)I |
专利有效期 | 单光子计数成像仪 至单光子计数成像仪 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 一种单光子计数成像探测装置,其高压电源通过高压引线与微光像增强管 连接;显示器、图像处理装置、打印机分别与计算机连接,微光像增强管与前 置放大器之间还设置有阳极收集器,阳极收集器包括衬底镀在衬底上的电极以 及信号引线,阳极通过信号引线与前置放大器连接;微光像增强管包括沿光路 依次设置的光电阴极以及与光电阴极连接的微通道板。本实用新型既可以用作 到达时刻的时间标记读出,也可以将一个周期内积分的总图像一并读出,实现 极微弱目标单光子计数及二维成像探测,不仅具有单光子计数功能,而且能够 对极微弱发光目标进行二维成像的特点。本实用新型具有大面阵、高灵敏度、 暗计数低、分辨率高、成像线性度好,实时测量处理的优点。 |
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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