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皮秒脉冲对比度单次测量仪

  • 申请号:CN200820151905.9
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN201237532
  • 公开(公开)日:2009.05.13
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 皮秒脉冲对比度单次测量仪
申请号 CN200820151905.9 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN201237532 公开(授权)日 2009.05.13
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 欧阳小平;李小燕;朱健强
主分类号 G01J11/00(2006.01)I IPC主分类号 G01J11/00(2006.01)I;G02F1/35(2006.01)I;G02B17/06(2006.01)I
专利有效期 皮秒脉冲对比度单次测量仪 至皮秒脉冲对比度单次测量仪 法律状态 授权
说明书摘要 一种皮秒脉冲对比度单次测量装置,由分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第 三反射镜、第四反射镜、基频达曼光栅、基频补偿光栅组、第五反射镜、第六反射 镜、二倍频晶体、二倍频达曼光栅、二倍频补偿光栅组、反射镜组、合束镜组、三 倍频晶体组、滤光片组和光电倍增管组构成,本实用新型采用达曼光栅实现待测脉 冲及其二倍频信号的多路分光,以实现108以上的对比度测量。而且,可以利用达曼 光栅分光时产生的不同角度,得到渐变的光程延迟。改变达曼光栅之间的距离,以 及达曼光栅和补偿光栅之间的距离,可以调节光程延迟的最大值,实现100ps的时 间延迟测量。

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